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【2h】

Statistical analysis of subthreshold leakage current for VLSI circuits

机译：VLsI电路亚阈值漏电流的统计分析

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作者
Rajeev Rao; Student Member; Ashish Srivastava; David Blaauw; Dennis Sylvester;
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作者单位

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年度 2004
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1. Statistical analysis of subthreshold leakage current for VLSI circuits [J] . Rao R., Srivastava A., Blaauw D., IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2004,第2期

机译：VLSI电路亚阈值泄漏电流的统计分析
2. Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits [J] . Dongwoo Lee, Blaauw D., Sylvester D. IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2004,第2期

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3. Current-mode subthreshold MOS circuits for analog VLSI neural systems [J] . Andreou A.G., Boahen K.A. IEEE Transactions on Neural Networks . 1991,第2期

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4. Analysis and optimization of static power considering transition dependency of leakage current in VLSI circuits [C] . Abdollahi, A., Fallah, . 2005

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5. Designing robust and low-leakage VLSI circuits at the end of silicon roadmap: Technology and circuit perspectives. [D] . Mukhopadhyay, Saibal. 2006

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7. Analysis and Optimization of Static Power Considering Transition Dependency of Leakage Current in VLSI Circuits [O] . Afshin Abdollahi, Farzan Fallah, Massoud Pedram 2008

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